Chromatique Focus Probe (CFP)

Sensor Point Chromatique de haute précision pour la mesure rapide sur diverses surfaces

Le CFP est largement indépendant des conditions de surface et permet des mesures de dimensions et de positions avec une grande densité de points. Il est utilisé pour la mesure sure des surfaces aussi bien diffuses que réfléchissantes tel que des pièces transparentes ou des miroirs. Il trouve son application dans le domaine de l’outillage, de l’électronique aussi bien que l’optique, par exemple.

Micro gravure sur moule, coplanarité de contacts sur connecteurs, planéité sur des platines de montres ou bien encore mesure de surfaces optique fonctionnelles sont des utilisations récurrentes du CFP.

Avantages supplémentaires

• Mesure sans contact adaptée aux pièces sensibles ou élastiques
• Plage de mesure étendue permettant un scanning rapide, sans nécessité d’ajustement de l’axe du capteur, pour des temps de mesure encore réduits
• Capacité à mesurer des surfaces réfléchissantes ou transparentes
• Possibilité de mesurer l’épaisseur de couches sur des matériaux transparents (en option)