Werth Chromatique Ligne (CFL)

Sensor Chromatique Ligne haute précision pour la mesure rapide sur différentes surfaces

Avec le Chromatic Focus Line (CFL) sensor, la géométrie complète d’une pièce peut être acquise très rapidement. Le Chromatic Focus Line sensor fonctionne aussi bien sur des surfaces diffuses, réfléchissantes que transparentes, ayant même une inclinaison élevée. La précision sans pareil à grande vitesse de scanning autorise la mesure de micro structure ultra précise, ceci donne accès par exemple à la mesure de précision sur des outils diamants, micro matrice carbure d’étampage mais aussi toutes pièces ayant une surface diffusante. La grande densité de points permet une mesure rapide de micro topographie tel que par exemple la coplanarité sur des matrice de LED ou de micro structure dans la technologie du semi-conducteur, ceux-ci ne sont que quelques exemples de domaine d’applications pour le CFL.